cas140d阵列式光谱仪(caam-2001型原子吸收光谱仪操作)

在 LASER WoP 2022（4 月 26 日至 29 日，慕尼黑）上，Instrument Systems 将展示其最新的光谱辐射计 CAS 140D IR，用于测量 SWIR（短波红外）波长范围，以及其最新的 VTC 4000 红外相机，用于近窄带发射器的场分析，例如VCSEL 或激光器。

新型分光辐射计提供 CAS140D 系列经过验证的高测量精度和可靠性 - 国际公认的参考 - 用于 780-1700 nm 的波长。与前代产品相比，CAS 140D IR 在信号灵敏度、杂散光抑制和电子器件方面具有明显更好的性能。

除了经过验证的高测量精度和可靠性外，它还承诺比其前身 CAS 140CT IR 在红外范围内的波长性能显着提高。由于光学架构的新设计，吞吐量提高了 70%。杂散光的比例再次显着降低。此外，CAS 140D IR 包含一个新的电子平台，可以更快地处理测量：最小可能的积分时间已从 10 ms 减少到 4 ms，测量的总扫描时间从 16 ms 减少到 10 ms。

由于测量时间更短，用户的优势在于更高的生产率，同时具有更高的精度和可重复性。作为宽带模型（780-1700 nm）的补充，高分辨率设备专门用于测量窄带激光二极管，例如 VCSEL：例如1300-1440 nm，光谱分辨率为 0.75 nm。

与所有 Instrument Systems 光谱仪一样，红外型号具有可溯源至 PTB 或 NIST 的校准功能。借助触发盒，可以将各种不同的 CAS 模型组合到 MultiCAS 系统中，并在极宽的波长范围内并行进行复杂的光谱测量。通过与 2D 成像色度计、红外摄像机、积分球或测角仪系统的正确组合，它们可以精确、可靠地执行从紫外到红外波长范围内的个别客户任务。

用于偏振控制 VCSEL 测试的红外相机

该公司还将展示其最新的 VTC 4000 红外热像仪，用于对窄带发射器进行近场分析，例如VCSEL 或激光器。

行业标准的 VCSEL 发射多个偏振态，每个偏振态具有不同的偏振角，因此妨碍了无误差测量。由于采用了新的一次性过程，VTC 4000 可以同时测量阵列和电源的单个发射器的空间偏振减少测量设置的偏振依赖性的必要信息。该程序最大限度地减少了 VCSEL 测试系统的误差预算，并为激光源的眼睛安全提供了高度准确的测量值。这使制造商能够充分利用 VCSEL/激光器的功率效率，同时保证安全运行。

VTC 4000 专为对 VCSEL 阵列进行超快、精确的 2D 分析而开发。它允许对阵列的单个发射器的所有相关参数进行偏振控制的同时表征。由于独特的校准概念，二维质量分析以前所未有的测量精度进行。该概念基于平场和偏振校正，并校正光学系统的偏振依赖性。

如此校准的 VTC 4000 可以在一次性过程中对视场内每个单个发射器的功率和偏振特性进行绝对测量。与 Instrument Systems 的所有测量设备一样，VTC 4000 相机根据国家标准 (PTB) 进行可追溯校准，并提供绝对精度的读数。其功率测量的最小误差预算导致测量精度据说是目前市场上任何其他 VCSEL 测量系统所无法比拟的。